MFM/STM系统


仪器功能:

MFM功能:

可对样品进行表面形貌及磁结构表征,可测试的样品包括薄膜、晶体、二维材料、微米级小器件等。可在强磁场、低温环境下对样品选定区域进行连续变温变场成像测量,且灵敏度极高,能测量仅几个原子层厚度的样品。

STM功能:

可对样品进行原子分辨率形貌测量及隧道电流谱测量。配备离子泵,真空可到10-9 Torr,可实现样品的超高真空解离和实现样品表面的离子束轰击清理。


放置地点:强磁场中心一楼大厅

仪器管理员:冯启元       联系电话:152 5659 0673      邮箱:fqyuan@hmfl.ac.cn