MFM/STM系统

仪器功能：

MFM功能：

      可对样品进行表面形貌及磁结构表征，可测试的样品包括薄膜、晶体、二维材料、微米级小器件等。可在强磁场、低温环境下对样品选定区域进行连续变温变场成像测量，且灵敏度极高，能测量仅几个原子层厚度的样品。

STM功能：

      可对样品进行原子分辨率形貌测量及隧道电流谱测量。配备离子泵，真空可到10-9 Torr，可实现样品的超高真空解离和实现样品表面的离子束轰击清理。

放置地点：强磁场中心一楼大厅          仪器管理员：冯启元

 邮箱：fqyuan@hmfl.ac.cn                   联系电话：152 5659 0673